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更新時間:2024-11-20
廠商性質:代理商
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依靠F50薄膜厚度測量儀的光譜測量系統,可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺,可以快速的定位所需測試的點并測試厚度,測試非常快速,大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。F50系統配置精度高使用壽命長的移動平臺,以求能夠做成千上萬次測量。
系統中預設了許多極坐標形、方形和線性的圖形模式,也可以編輯自己需要的測試點。只需掌握基本電腦技術便可在幾分鐘內建立自己需要的圖形模式。
基本上光滑的,非金屬的薄膜可以測量。可測樣品包括: