半導體分立器件測試系統采用了標準的PXI總線，能夠兼容CPCI和PXI設備。它是一款浮動資源的測試工作站，這種特殊的架構方式使得用戶可以有效的利用系統資源，配置出經濟、高效的測試系統。測試原理符合相的國家標準、國家標準。

產品型號：SD5000

更新時間：2024-11-19

廠商性質：代理商

訪問量：440

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產品介紹

產品描述

半導體分立器件測試系統

SD5000是一款高精度的半導體分立器件測試系統，該系統采用了標準的PXI總線，能夠兼容CPCI和PXI設備。它是一款浮動資源的測試工作站，這種特殊的架構方式使得用戶可以有效的利用系統資源，配置出經濟、高效的測試系統。測試原理符合相的國家標準、國家標準。SD5000旨在幫助您大限度地提高系統的正常運行時間、性能，大幅降低器件的測試時間，提高測試效率，同時大限度地降低運營成本，支持廣泛的業務。而且，我們的服務可以靈活的滿足您的需求。根據客戶具體應用場景，SD5000有倆種外形結構供客戶選擇。

基本特征:

1. 半導體分立器件測試系統擁有成本，可靠的、可擴展的體系結構
2. CPU內嵌在系統主機內，并通過PXI總線控制和管理測試主機
3. Windows XP操作系統，窗口式編程，直觀、友好的圖形用戶界面極大的方便了用戶
4. 支持兩測試站乒乓測試，兩測試站可測試不同的器件類型，并支持不同的工作模式
5. 系統采用四線開爾文連接方式及屏蔽措施保證被測器件端的測試精度和穩定性
6. 兼容各類機械手、探針臺
7. 系統兼容CPCI和PXI設備，可以擴展數字資源，使客戶對機器的使用方式有多種選擇
8. 設備所有板卡和測試盒都是可以插拔的，使用戶在使用過程中方便維護
9. 機器體積的減小，縮短主機與DUT卡的距離，提高了設備的穩定性和精確度

目標器件:

二極管(整流、開關、檢波、穩壓等)：VR、IR、VF、Vz
三極管：BVCBO、BVCEO、BVCER、BVCES、BVEBO、ICBO、ICEO、ICER
ICES、IEBO、VCES、VBES、HFE
場效應管：BVDSS、BVDSR、BVDSO、BVDGO、BVGSO、BVGSS、IDSS、IDSO
IGDO、IGSO、IDSR、VGS、VDS、VTH、GFS
達林頓管：VCESAT、ICEO、IEBO、HFE、VBESAT、BVCEO、IGBT、BVCGR
BVGES、TGES、VCEST、VGETH
絕緣柵雙極型晶體管(IGBT):BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT VGETH、VGS(off)、Vf
可控硅：IGT、IH、IL、VGT、VON、BVAKF、BVAKR、BVAKO、IAKF、IAKR
光電耦合器：VF、IR、BVR、BVCEO、ICEO、CTR、VCESAT
其他半導體器件

技術指標:


功能模塊	指標名稱	描述
VIS	電壓電流源	116位，范圍：±30V/±20A；加壓精度：±0.5%；加流精度：±0.5%。
VM	電壓測量	16位，范圍：±2000V/±20A, 開爾文連接。測壓精度：±0.5%；測流精度：±0.5%；
HVS	高壓源	16位，范圍：±2000V/±5mA, 加壓精度為±1%。
HIS（Option）	大電流選件	16位，范圍：±200A, 加流精度為±1%。