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當前位置:首頁產品中心分析儀器SD-DIL 402 Expedis熱膨脹分析儀

熱膨脹分析儀
產品簡介:

熱膨脹分析儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme 集成了熱膨脹測量領域技術,為寬廣應用領域內的專業級的應用而設計。DIL Expedis 系列的所有型號均基于 NanoEye 測量系統,在測量范圍與精度兩方面達到了新的高度。

產品型號:SD-DIL 402 Expedis

更新時間:2024-11-17

廠商性質:代理商

訪問量:1055

服務熱線

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產品介紹

熱膨脹儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme   基本功能

軟化點檢測
軟件控制的力的調整(包括:線性力,恒定力,斜變力,步階力)
調制力
密度測量
用于溫度校正和檢測熱效應的c-DTA® 功能
速率控制燒結 RCS
曲線識別,通過數據庫對比識別未知的ΔL/L0曲線
密度測量,能夠測量樣品密度的連續變化,可應用于固體、液體、熔體、粘稠樣品(如涂料),以及用于計算各向異性材料的體膨脹。

 

熱膨脹儀 SD-DIL 402 Expedis Supreme   技術參數

溫度范圍: -180 ... 2000°C(不同爐體)

升溫速率: 0 ... 100°C/min(不同爐體)

測量氣氛: 動態或靜態;氧化、還原、惰性、真空

樣品形態: 固體、液體、粉末

樣品載荷: 10mN ... 3N,可變,可調制(選配)

選配擴展功能: c-DTA®、譜圖檢索、速率控制燒結

量程: ±25000μm

測量分辨率: 0.1nm

測試模式: 單樣品/雙樣品,樣品長度自動檢測

Multitouch技術 : 標配

Nanoeye位移傳感及載荷控制技術: 標配

雙爐體: 選配

 

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